測厚儀標(biāo)準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

標(biāo)準片可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌

用于校正測厚儀標(biāo)準及添加應(yīng)用程序

韓國XRF-2020測厚儀標(biāo)準片

銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等

各種厚度范圍均可訂制，附帶標(biāo)準證書

鍍層測厚儀標(biāo)準片

X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標(biāo)準化校準及建立測試檔案。

是膜厚測試中常用的標(biāo)準曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準樣品

根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準曲線。

以此標(biāo)準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、電子元器件，端子連接器，五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

鍍層測厚儀標(biāo)準片實物如圖所示：

測厚儀標(biāo)準片膜厚校準片XRF-2020無損測試儀

XRF-2000測厚儀標(biāo)準片

銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀，鉑，銠各種厚度及規(guī)格均可訂制，校準片均附帶證書