更新時間：2025-11-20
先鋒X-RAY膜厚儀韓國XRF-2020測厚儀檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器半導體等電鍍層厚度快速無損檢測電子電鍍層厚度銅上鍍錫厚度測量儀XRF-2020測厚儀錫厚測量范圍:1-60um
銅上鍍錫厚度測量儀XRF-2020測厚儀
錫厚測量范圍:1-60um
微先鋒XRF-2020系列鍍層測厚儀
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材！
1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。
2. 鍍層層數：可測5層。
3. 測量產品位置尺寸：標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)
4. 測量時間：通常15秒。
5. H型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
6 L型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。
7. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米
銅鍍錫測厚儀韓國先鋒XRF-2020膜厚測量儀
型號規格
如下圖:
XRF-2020測厚儀X-RAY膜厚檢測儀方法：
通過CCD鏡頭觀察樣品倉
XRF韓國電鍍層測厚儀
X-RAY膜厚儀快速無損測量
電鍍層膜厚,測量電鍍層厚度:
測量金,鎳,銀,錫,鋅,銅,鋅鎳合金等電鍍層厚度
單鍍層,雙鍍層,多鍍層,鋅鎳合金鍍層均可以測量
銅上鍍錫厚度測量儀XRF-2020測厚儀
錫厚測量范圍:1-60um
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